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Dependability in Internet of Things (IoT)

Dependability in Internet of Things (IoT)
type: Seminar (S) links:
semester: SS 2017
time:

by agreement

lecturer:

Victor Matthijs van Santen
Dr.-Ing. Hussam Amrouch
Prof.Dr.Ing. Jörg Henkel

SWS: 2
ECTS: 3
lv-no.: 2424801
information:

Course of Studies: Informatik Diplom/Master; Informationswirtschaft Diplom/Master.

Beschreibung:
Die Zuverlässigkeit der Schaltung it eine der größten Herausforderung im Entwurf integrierter Schaltungen. Alterung ändert die Eigenschaften der Schaltung im Laufe der Zeit, während radioaktive Strahlung überall und zu jeder Zeit Ladungsträger in der Schaltung erzeugen kann und die Hersteller nicht mehr in der Lage sind Halbleiter mit engen Toleranzen zu fertigen.
Das Aufkommen von Internet-of-Things (IoT) vershärft die Situation zusätzlich. Das Internet der Dinge bedeutet das Schaltungen mit sehr niedriger Leistungsaufnahme zu niedrigen Kosten gefertigt werden müssen und in harten Umgebungsbedingungen (z.B. industrielle Anwendungen) eingesetzt werden. Die Anforderungen bzgl. sehr niedriger Leistungsaufnahme und niedrigen Fertigungskosten macht die Anwendung der tradtionellen Designtechniken (z.B. robuste Materialien, Minderungstechniken, redundante Entwürfe)  unmöglich, was neue effizientere Lösungen bedingt.
In diesem Seminar werden die Probleme wie Alterungsprozesse, Strahlungsprozesse und die Auswirkungen von hohen Fertigungstoleranzen zusammen mit möglichen Lösungen um diese Probleme zu bewältigen gelehrt.
Da Zuverlässigkeit ein breites Themenfeld umfasst, wie Zuverlässigkeitsphysik, der Entwurf robuster Schaltungen, Optimierung von Mikroarchitekturen und Software, ist es ohne weiteres möglich, dass Thema an die Kenntnisse und Interessen anzupassen. Physiker, Elektrotechniker, Mathematiker sowie Informatiker sind herzlich eingeladen mit oder ohne Vorkenntnisse am Seminar teilzunehmen.

Description:
Maintaining dependability is one of the mayor challenges when designing a circuit. Aging changes the properties of the circuit over time, radiation can introduce charges at any point in time in any location within the circuit and semiconductor manufacturing is unable to maintain tight tolerances.
In the advent of Internet-of-Things (IoT) this challenge is exacerbated. Ultra-low power devices, manufactured at low cost and potentially operated in harsh environments (e.g. industrial applications) increase the difficulty of designing dependable circuits. The constraints in term of low power and low cost make most techniques (e.g. robust materials, mitigation techniques, redundant design) impossible and new more efficient techniques must be found.
In this seminar you will learn about the challenges which are faced, i.e. the aging phenomena, radiation and impact of manufacturing variability, as well as potential solutions to overcome these challenges.
As dependability is a multi-domain problem, the topic can involve reliability physics, circuit hardening, optimizing micro-architectures of processors and software. Therefore your topic can be customized regardless if your background is physics, electrical engineering, mathematics or computer science and if you have previous knowledge in the area of dependability or not.

Language: German or English.

Application: Registration form.

Meeting Schedule: Will be informed vie email after registration.